離子遷移（CAF）測試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號：Huace

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-03-12

產(chǎn)品簡介：

華測儀器離子遷移（CAF）測試系統(tǒng)

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師

離子遷移（CAF）測試系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，是用于捕捉高溫、高濕、電場等復(fù)雜環(huán)境下，材料及元器件因離子遷移引發(fā)的絕緣電阻劣化過程，準確判斷失效風險，為產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)控及失效分析等提供科學(xué)數(shù)據(jù)支撐，普遍適配電子、汽車、新能源等多行業(yè)高可靠性產(chǎn)品的測試需求。

技術(shù)參數(shù)

測量電壓:100 ~ 1500V（可定制）

測試通道:128通道（可定制至高960通道）

測試時長:可連續(xù)運行1500小時

測試溫度:85℃（可定制）

測試濕度:85%（可定制）

測量范圍:1×10⁵ ~ 1×10¹⁵Ω

極化電壓:100 ~ 1500V（可定制）

掃描周期:至快2分鐘（128通道）

 產(chǎn)品優(yōu)勢

安全與穩(wěn)定性強：具備緊急停止、過溫切斷加熱斷路器等保護功能，配備防反水加濕水路系統(tǒng)與二級加濕用水過濾保護，既保障操作安全，又延長設(shè)備使用壽命；部分型號可選購觀察窗隱私功能，保護試件隱私。

可定制適配性：支持測試參數(shù)、通道數(shù)量、環(huán)境模擬條件等按需定制，可適配標準樣材、異形件（夾取方式）測試，兼容行業(yè)標準，滿足不同行業(yè)、不同產(chǎn)品的個性化測試需求。