塞貝克系數(shù)電阻熱電性能測試儀

產(chǎn)品型號：HC-RD-1100

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-03-09

產(chǎn)品簡介：

HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻熱電性能測試儀

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術規(guī)格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻熱電性能測試儀由華測儀器生產(chǎn)，是一款簡單易用的材料表征儀器，可以同時測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率，該產(chǎn)品具有寬溫區(qū)覆蓋、高適應性、多功能集成等特點，主要服務于熱電材料研發(fā)、新能源器件測試及半導體性能分析等領域。

產(chǎn)品優(yōu)勢

1、提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環(huán)境，適配材料在不同反應條件下的性能評估

2、電源輸出 0～1A，具備長期穩(wěn)定性，支持連續(xù)高溫實驗與長時間數(shù)據(jù)采集

3、靈活兼容性與操作便捷性

產(chǎn)品參數(shù)

溫度范圍：RT~800/1100/1200℃

測量原理：塞貝克系數(shù):靜態(tài)直流法;電阻率:四端法

氣氛：惰性、氧化、還原、真空

樣品支架：三明治結構夾于兩電極之間

樣品尺寸(圓柱形或棱柱形)：2至5mm(面寬)，23mm，φ6mm，23mm

樣品尺寸(圓盤狀)：10、12.7、25.4 mm

可調(diào)探頭距離：4、6、8mm

塞貝克系數(shù)測量范圍：1~ 2500uV/K、準確度±7%、重復性±3%

電導率測量范圍：0.01~2*10⁵s/cm、準確度±5-8%、再現(xiàn)性±3%

電源：0~ 1A，具有長期穩(wěn)定性

電極材料：鎳(-100至500“C)/鉑(-100至+1500°C)

熱電偶：K/S/C型