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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：
半導(dǎo)體材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀器
產(chǎn)品型號(hào)：HTDM-10
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
所在地：北京市
更新日期：2025-12-17
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
半導(dǎo)體材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀器，主要用于：多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用。
產(chǎn)品特性Product characteristics
| 品牌 | 華測(cè) |
|---|
多半導(dǎo)體材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀器
型號(hào)：HTDM-10
1、主要用于：多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用
2、光耦繼電器，高速又耐用
3、切換時(shí)間 1 ms
4、高速I(mǎi)/O 輸出控制
LCR 多路測(cè)試軟件
1、掃描、比較器
針對(duì)所有通道設(shè)置測(cè)試條件（量程、頻率、比較器等）
可zhiding某個(gè)通道的 ON 與 OFF
可循環(huán)進(jìn)行掃描測(cè)試
同時(shí)可在本地保存測(cè)試條件
2、OPEN&SHORT 補(bǔ)償
可對(duì)應(yīng)各通道的開(kāi)短路補(bǔ)償
如若利用 LCR 的設(shè)置切換功能則需要較長(zhǎng)的切換時(shí)間，在軟件內(nèi)進(jìn)行了開(kāi)短路補(bǔ)償計(jì)算，可維持高速的掃描時(shí)間
3、數(shù)據(jù)保存
掃描的數(shù)據(jù)可根據(jù)通道進(jìn)行保存
公司主營(yíng)產(chǎn)品：
幾大系列：功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。
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