CTI 與 PTI 標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試：HCLD-2 漏電起痕試驗(yàn)儀技術(shù)詳解

華測(cè)儀器 HCLD-2 低壓漏電起痕試驗(yàn)儀用于檢測(cè)固體絕緣材料表面耐漏電蝕損性能，準(zhǔn)確測(cè)定相比電痕化指數(shù) (CTI)、耐電痕化指數(shù) (PTI)，為材料絕緣可靠性驗(yàn)證、產(chǎn)品安規(guī)認(rèn)證提供準(zhǔn)確試驗(yàn)依據(jù)。

設(shè)備配備低通濾波電流監(jiān)測(cè)單元，濾除測(cè)試雜波干擾，穩(wěn)定采集漏電電流信號(hào)，保障檢測(cè)數(shù)據(jù)重復(fù)性；搭載過壓、過流、門限多重防護(hù)功能，出現(xiàn)擊穿、電壓電流異常時(shí)切斷回路，多角度守護(hù)設(shè)備與人員操作穩(wěn)定。

配套自研 Huace Pro 智能測(cè)試軟件，具備斷電自動(dòng)存檔功能，試驗(yàn)數(shù)據(jù)、實(shí)時(shí)曲線與試樣圖像均可完整留存，重啟后一鍵恢復(fù)測(cè)試記錄；內(nèi)置多套主流檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，可直接調(diào)用，同時(shí)支持自定義試驗(yàn)參數(shù)。

整機(jī)可調(diào)參數(shù)覆蓋多元測(cè)試需求：試驗(yàn)電壓 100V~1000V 可按需定制，滴液高度 30~40mm 連續(xù)調(diào)節(jié)，滴液間隔 1s~999s 可設(shè)置。設(shè)備支持兩種試驗(yàn)終止邏輯，可設(shè)定50滴、100滴定量停機(jī)；若檢測(cè)到漏電流≥0.5A 并持續(xù) 2s，將自動(dòng)判定試樣電痕擊穿并結(jié)束試驗(yàn)，判定邏輯符合標(biāo)準(zhǔn)。

儀器普遍應(yīng)用于電工電子元器件、半導(dǎo)體封裝基材、改性工程塑料、家電絕緣零部件、新能源絕緣墊片等行業(yè)，滿足研發(fā)性能測(cè)試、來料質(zhì)檢、第三方實(shí)驗(yàn)室認(rèn)證檢測(cè)等多種場(chǎng)景使用。