適配光譜 / 顯微測試：帕爾貼冷熱臺選型與應用

還在為液氮成本高昂、機械振動干擾測試、溫度波動不穩而煩惱嗎？ 華測儀器 Huace TEC-150 帕爾貼冷熱臺 與 Huace TEC-PE120 帕爾貼冷熱臺，為原位變溫光學測試帶來無液氮、無振動、高穩定的解決方案。

兩款均采用帕爾貼熱電制冷技術，依靠半導體熱電效應實現雙向控溫，無需液氮、無機械運動部件、無噪音污染，潔凈室、光學測量等場景均可使用。

1.寬溫區準確控溫：溫度覆蓋 -40℃ 至 150℃ 寬溫區，溫度穩定性可達 ±0.1℃，毫秒級響應，確保試驗數據穩定可靠。

2.靈活升降溫速率：升降溫速率 0~30℃/min 連續可調，支持多段程序控溫，可復現復雜溫變曲線，滿足材料相變、熱分析等多樣化試驗需求。

3.完備光學兼容性：開放式光路、無遮擋設計，兼容反射 / 透射模式，適配拉曼光譜、熒光光譜、紅外光譜等多種光學測試場景，可與顯微鏡、光譜儀等設備聯用，實現原位實時觀測。

小巧通用（TEC-150）：體積緊湊，適配薄片、薄膜、小尺寸樣品，是常規光學變溫測試的理想選擇。

大樣品適配（TEC-PE120）：是為大樣品與探針測試設計，樣品高度 3.5mm，載樣臺尺寸 40mm×40mm，兼容塊狀、厚膜、粉末等多種樣品；腔體支持真空、氣氛、大氣三種模式，滿足不同氣氛環境下的測試需求。

告別液氮消耗與振動干擾，獲得高準度、省時省力、高兼容性的變溫測試新體驗 ——華測儀器帕爾貼冷熱臺，讓每一次原位實驗都更準確、更穩定、更省心。